東京工業大学名誉教授　福長　脩先生の推薦状

セラミックスなど構造体の粒径分布測定の重要性

ご承知のごとく、分散粒子系についてはさまざまな、粒度分布測定法が知られていますが、セラミックスのように分散不可能な対象については、適切な方法が必ずしも明らかではないと考えます。 市販画像処理ソフトの全てを確かめたわけではありませんが、汎用性だけを追及するとかえって目的に合致しないことも多いように思います。 　一方、セラミックスの粒径分布はさまざまな特性を左右する要素で、特性改善、特性制御などにきわめて重要な情報を与えてくれると考えております。 畏友サイエンス　ソリューションズ株式会社の代表取締役　西川正名氏に、このような事柄を検討願うように依頼したところ、このたび、研究者技術者の作業環境に適したソフトを開発していただき、 さらにそれを充実させるべく、各方面の専門家の方の協力を得て試用ソフトについて、使い勝手、改善すべき点などについてご意見をうかがい、そのコメントも反映させたソフトが完成しました。 　なお、蛇足ですが、西川氏は東大理学部地球物理学科の修士、博士課程在学中に物性研で地球深部物質の合成相平衡などの研究をされていた時代からお付き合いいただいている友人の一人であり、 かねてから、その学識に尊敬の念を抱いている方です。 　水平思考的にさまざまな友人、他分野の専門家とも情報を交換して、借り物ではない独自の技術を構築する必要性をいまにして、強く感じております。独自の技術、学問を構築するということは 言うは易し行なうは難しとは承知しているつもりですが、小さいことでもまず何かを作り、それに対してさまざまなご意見をいただくのは大切ではないかと愚考する次第です。

平成15年1月吉日

東京工業大学名誉教授 　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　(エーステック株式会社　代表取締役) 　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　福長　脩

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